| 产品图片 | 产品名称/型号 | | 主要技术指标 | 价格 |
| 红外摄像仪
Ti300 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+650 °C（-4 °F至+1202 °F） | 洽询
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| 工业-商业型热成像仪
Ti125 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至250 °C（-4 °F至482 °F） | 洽询
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| 工业用和商用 热像仪
Ti105 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至250 °C（-4 °F至482 °F） | 洽询
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| 通用型热像仪
Ti100 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+ 250 °C（-14 °F至482 °F） | 洽询
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| 热像仪
Ti95 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+250 °C(-4 °F to +482 °F) | 洽询
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| 红外热像仪
Fluke Ti32 | 美国FLUKE | 温度测量范围（-10 °C以下未经校准）-20℃～+600℃ | 洽询
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| 热像仪
Ti90 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+250 °C(-4 °F to +482 °F) | 洽询
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| 红外热像仪
Ti29 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C ～ +600 °C | 洽询
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| 红外热像仪
Ti27 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20°C ～+600°C | 洽询
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| 红外热像仪
Ti25 | 美国FLUKE | 温度量程（-10 °C以下未经校准）-20 °C～+350 °C (2个量程) | 洽询
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| 红外热像仪
Ti10 | 美国FLUKE | 温度量程（-10 °C以下未经校准）:-20 °C~+250 °C（-4 °F～+ 482 °F）
全热辐射度是:精度：± 2 °C或2 %（取二者中较大者) | 洽询
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| 红外热像仪
Ti9 | 美国FLUKE | 温度量程（-10 °C以下未经校准）： -20 °C~+250 °C（-4 °F～+ 482 °F） | 洽询
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| 热成像仪
Ti55FT | 美国FLUKE | 校准温度范围：Ti55: -20 ˚C至600 ˚C，3量程（-4 oF至1112 oF） | 洽询
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| 红外热像仪
TiR3FT | 美国FLUKE | 校准温度范围：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF） | 洽询
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| 红外热像仪
TiR4FT | 美国FLUKE | 校准温度范围：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF） | 洽询
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| 红外热像仪
D-334 | 美国FLIR | 13 mm 镜头 – FOV: 34°(H) x 28°(V) | 洽询
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| 研发用红外热像仪
FLIR SC640 | 美国FLIR | 12o、24°或45°标准镜头 | 洽询
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| 红外热像仪
TS24 | 美国FLIR | 240 x 180像素 | 洽询
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| 红外热像仪
FLIR E4 | 美国FLIR | 精度 ±2℃或读数的±2%，环境温度10℃-35℃，对象温度+0℃以上 | 洽询
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| 红外热像仪
FLIR E5 | 美国FLIR | 精度 ±2℃或读数的±2%，环境温度10℃-35℃，对象温度+0℃以上 | 洽询
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