| 产品图片 | 产品名称/型号 | | 主要技术指标 | 价格 |
| FX-GD系列克拉天平,3200g,0.01g
FX-3000GD | 日本AND | 称重范围3200g读数精度0.01g重复精度0.01g | 洽询
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| 精密电子分析天平,2200g,0.01g
FZ-2000i | 日本AND | 称重范围：2200g | 洽询
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| 电子分析天平,210g,0.1mg
HR-200 | 日本AND | 测量范围:210克 | 洽询
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| FX-iWP 系列防水精密电子天平,2200g,0.01g
FX-2000iWP | 日本AND | 量程2200g 精度 0.01g 称盘尺寸 Ø150mm | 洽询
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| 日本AND MC系列精密天平
AND MC系列 | 日本AND | 标配玻璃防风罩（MC-1000/6100）或简易防风罩（MC-10K/30K） | 洽询
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| FX-iWP 系列防水精密电子天平,320g,0.001g
FX-300iWP | 日本AND | 量程 320g 精度
0.001g
称盘尺寸 Ø
130mm
| 洽询
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| FX-i系列精密天平,1220g,0.01g
FX-1200i | 日本AND | FX-1200i
1220g
0.01g
直径150mm
| 洽询
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| 日本AND BM系列自动微量分析天平1μg
BM系列 | 日本AND | 最小显示精度1μg(BM-20/BM-22)<br/>元素分析/烟尘分析/环境测定/生化相关实验/微量分析测量 | 洽询
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| FX-i系列精密天平,320g,0.001g
FX-300i | 日本AND | FX-300i
320g
0.001g
直径130mm
| 洽询
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| 微量分析天平,220g,0.1mg
GH-202 | 日本AND | 专业型高精度宽范围微量天平 | 洽询
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| 电子分析天平,210g,0.1mg
GR-202 | 日本AND | 测量范围:210/42克 | 洽询
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| 日本AND HR-AZ/HR-A系列分析天平
HR-AZ/HR-A系列 | 日本AND | 内置校准砝码，自动自校准（ＨＲ－ＡＺ） | 洽询
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| GP-K系列精密工业天平,31kg/6.1kg,1g/0.1g
GP-32K | 日本AND | 称重范围31Kg / 6.1Kg 读数精度1/ 0.1g 重复精度0.5g / 0.1g | 洽询
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| FX-CT系列克拉天平,310g,0.001g
FX-300CT | 日本AND | 称重范围（ct/g）
310/62
读数精度(ct/g)
0.001/0.001
重复性(ct/g)
0.001/0.005
| 洽询
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| FX-GD系列克拉天平,122g,0.001g
FX-120GD | 日本AND | 称重范围
122g
读数精度
0.001g
重复精度
0.001g
| 洽询
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| 电子分析天平,310g,0.1mg
HR-300 | 日本AND | 精度 0.1mg | 洽询
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| 分析天平,210g,0.1mg
GR-200 | 日本AND | 测量范围:210克 | 洽询
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| 日本AND AD-4212A系列高精度天平,0.1mg
AD-4212A | 日本AND | 称重单元与显示单元分别放置通过2米电缆连接,电缆可延长到最长5米,显示单元可安装到易于操作的地方。 | 洽询
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| FX-GD系列克拉天平,2200g,0.01g
FX-2000GD | 日本AND | 称重范围2200g读数精度0.01g重复精度0.01g | 洽询
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| FX-GD系列克拉天平,220g,0.001g
FX-200GD | 日本AND | 称重范围
220g
读数精度
0.001g
重复精度
0.001g
| 洽询
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