产品图片 | 产品名称/型号 | | 主要技术指标 | 价格 |
| 炉温测试仪(II系列) KIC Start2 | 美国KIC | 6通道,温度范围:-150C 至 1050C | 洽询
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| 炉温测试仪(X5系列) KIC2000 X5 | 美国KIC | X5拥有7通道、9通道及12通道三种款式 | 洽询
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| 红外热像仪 TiR3FT | 美国FLUKE | 校准温度范围:-20 ˚C至100 ˚C(-4 oF至212 oF) | 洽询
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| 热像仪 Ti50FT | 美国FLUKE | 校准温度范围:Ti50: -20 ˚C至350 ˚C,2量程(-4 oF至662 oF) | 洽询
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| 红外热像仪 Ti10 | 美国FLUKE | 温度量程(-10 °C以下未经校准):-20 °C~+250 °C(-4 °F~+ 482 °F)
全热辐射度是:精度:± 2 °C或2 %(取二者中较大者) | 洽询
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| 工业用和商用 热像仪 Ti105 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至250 °C(-4 °F至482 °F) | 洽询
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| 工业用和商用 热像仪 Ti110 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至250 °C(-4 °F至482 °F) | 洽询
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| 手持式红外温度计 Fluke 60 系列 | 美国FLUKE | Fluke 61 -18 °C (0 °F) to -1 °C (30 °F) ± 3 °C (5 °F)
above -1 °C (30 °F) to 275 °C (525 °F)± 2% of reading or 2 °C (3.5 °F)
(With the instrument stable between 23-25 °C) | 洽询
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| 红外接触式点温仪 Fluke 566 | 美国FLUKE | 测温范围 -40 °C至650 °C(-40 °F至1202 °F) | 洽询
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| 表面温度校准器 3125 | 美国FLUKE | 温度范围:35℃~400℃(95 °F~752 °F) | 洽询
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| 精密铂电阻温度计 5623B | 美国FLUKE | 温度量程 - 100 °C到156 °C | 洽询
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| 红外热像仪 PT-618 | 美国FLIR | 35 mm镜头– FOV: 18° (H) × 14° (V) | 洽询
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| 红外热像仪 PT-304 | 美国FLIR | 100 mm镜头– FOV: 4.6° (H) x 3.7° (V) | 洽询
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| 红外热像仪 PT-348 | 美国FLIR | 9 mm镜头– FOV: 48° (H) x 39° (V) | 洽询
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| 远程监控用热像仪 ThermoVision2000 | 美国FLIR | 工作温度范围为-32°C至+55°C | 洽询
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| 红外热像仪 FLIR B660 | 美国FLIR | 精度 ±1 °C或读数的±1% (限制范围)± 2 °C或度数的± 2% | 洽询
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| 红外热像仪 FLIR B620 | 美国FLIR | 精度 ±2 °C,或读数的±2% | 洽询
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| 2” FLIR 红外窗口 IRW-2C | 美国FLIR | 光学元件直径 50mm | 洽询
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| 红外热像仪 P640 | 美国FLIR | 测温范围 -40°C ~ +500°C(最高可选测量温度可达+2000°C) | 洽询
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| 热成像相机 T460 | 美国FLIR | Accuracy +/-1°C (+/-1.8°F) or +/-1% of reading for limited temperature range; ±2°C (±3.6°F) or 2%, whichever is greater, at 25°C (77°F) nominal | 洽询
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