产品图片 | 产品名称/型号 | | 主要技术指标 | 价格 |
| 热像仪 Ti30 | 美国FLUKE | 温度范围 -10 至 250°C(14 至 482°F) | 洽询
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| 红外摄像仪 Ti200 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+650 °C(-4 °F至+1202 °F) | 洽询
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| 热像仪 Ti40 | 美国FLUKE | 热灵敏度 (NETD) :Ti40: ≤0.09 °C @ 30 °C | 洽询
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| 通用型热像仪 Ti100 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+ 250 °C(-14 °F至482 °F) | 洽询
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| 红外热像仪 Ti10 | 美国FLUKE | 温度量程(-10 °C以下未经校准):-20 °C~+250 °C(-4 °F~+ 482 °F)
全热辐射度是:精度:± 2 °C或2 %(取二者中较大者) | 洽询
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| 热像仪 Ti50FT | 美国FLUKE | 校准温度范围:Ti50: -20 ˚C至350 ˚C,2量程(-4 oF至662 oF) | 洽询
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| 热成像仪 Ti50 | 美国FLUKE | 热灵敏度(NETD) Ti50: ≤ 0.07 °C at 30 °C | 洽询
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| 热像仪 Ti20 | 美国FLUKE | 温度范围: -10°至 350°C | 洽询
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| 红外热像仪 Ti400 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+1200 °C(-4 °F至+2192 °F) | 洽询
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| 工业-商业型热成像仪 Ti125 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至250 °C(-4 °F至482 °F) | 洽询
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| 工业用和商用 热像仪 Ti110 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至250 °C(-4 °F至482 °F) | 洽询
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| 工业用和商用 热像仪 Ti105 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至250 °C(-4 °F至482 °F) | 洽询
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| 红外热像仪 Fluke Ti32 | 美国FLUKE | 温度测量范围(-10 °C以下未经校准)-20℃~+600℃ | 洽询
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| 热像仪 Ti90 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+250 °C(-4 °F to +482 °F) | 洽询
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| 红外热像仪 Ti27 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20°C ~+600°C | 洽询
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| 红外热像仪 Ti25 | 美国FLUKE | 温度量程(-10 °C以下未经校准)-20 °C~+350 °C (2个量程) | 洽询
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| 红外热像仪 TiR3FT | 美国FLUKE | 校准温度范围:-20 ˚C至100 ˚C(-4 oF至212 oF) | 洽询
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| 红外摄像仪 Ti300 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+650 °C(-4 °F至+1202 °F) | 洽询
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| 热像仪 Ti95 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+250 °C(-4 °F to +482 °F) | 洽询
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| 红外热像仪 Ti29 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C ~ +600 °C | 洽询
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