玉树环境检测仪器价格_玉树环境检测仪器厂家

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	炉温测试仪（X5系列） KIC2000 X5	美国KIC	X5拥有7通道、9通道及12通道三种款式	洽询
	炉温测试仪 A 6000	Wickon	测温范围：-150℃~1370℃	洽询
	炉温测试仪 Wickon	Wickon	多路通道（6、7、10、12、15、24、32）	洽询
	炉温测试仪 Q24	Wickon	测温范围：-150℃~1370℃	洽询
	炉温测试仪 Q15	Wickon	测温范围：-150℃~1370℃	洽询
	炉温测试仪 Q7	Wickon	测温范围：-150℃~1370℃	洽询
	炉温测试仪 A6L	Wickon	测温范围：-150℃~1370℃	洽询
	炉温测试仪 X6	Wickon	测温范围：-150℃~1370℃	洽询
	红外热像仪 TiR4FT	美国FLUKE	校准温度范围：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF）	洽询
	红外热像仪 TiR3FT	美国FLUKE	校准温度范围：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF）	洽询
	热成像仪 Ti55FT	美国FLUKE	校准温度范围：Ti55: -20 ˚C至600 ˚C，3量程（-4 oF至1112 oF）	洽询
	红外热像仪 Ti9	美国FLUKE	温度量程（-10 °C以下未经校准）： -20 °C~+250 °C（-4 °F～+ 482 °F）	洽询
	红外热像仪 Ti29	美国FLUKE	温度测量范围 -20 °C ～ +600 °C	洽询
	红外热像仪 Fluke Ti32	美国FLUKE	温度测量范围（-10 °C以下未经校准）-20℃～+600℃	洽询
	热像仪 Ti95	美国FLUKE	温度测量范围 -20 °C至+250 °C(-4 °F to +482 °F)	洽询
	工业-商业型热成像仪 Ti125	美国FLUKE	温度测量范围 -20 °C至250 °C（-4 °F至482 °F）	洽询
	红外摄像仪 Ti300	美国FLUKE	温度测量范围 -20 °C至+650 °C（-4 °F至+1202 °F）	洽询
	红外测温仪 Fluke 62 MAX+	美国FLUKE	温度范围-30 °C至650 °C（-22 °F至1202 °F）	洽询
	VT04 可视红外测温仪 HVAC 组合套件 FLK-VT04-H-KIT	美国FLUKE	温度测量范围 -10 °C至+250 °C（14 °F至482 °F）	洽询
	VT04 可视红外测温仪维护组合套件 FLK-VT04-M-KIT	美国FLUKE	温度测量范围 -10 °C至+250 °C（14 °F至482 °F）	洽询

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