【外凸面的覆层测量】
见图Fig.6
通常会显示正偏差当曲率半径小于一定值时偏差会较为明显（铁磁性基材曲率半径小于20mm时导电性基材曲率半径小于50mm时）。
【内凹面的覆层测量】
见图Fig.7
通常会显示负偏差当曲率半径小于一定值时偏差会较为明显（铁磁性基材曲率半径小于25mm时，导电性基材曲率半径小于50mm时）
【边缘部分的覆层测量】
见图Fig.8
通常会显示正偏差当A小于5mm时偏差会较为明显。
【靠近侧壁的覆层测量】
见图Fig.9
通常会显示负偏差当A小于5mm时偏差会较为明显。
【凹槽底部的覆层测量】
见图Fig.10
通常会显示负偏差当D小于20mm时偏差会较为明显。
极薄基材上的覆层测量见图Fig.11
对于铁磁性基材通常会显示正偏差对于导电性基材通常会显示负偏差。当T小于0.6mm时偏差会较为明显。当T小于0.1mm（铁磁性基材）或者是小于0.01mm（导电性基材）无论是否校准测量都不能实现。
【喷丸表面上覆层的测量】
见图Fig.16
a对于Rz值小于20μm的喷丸面上的覆层测量。先在无覆层的基材上面测量十次进行较零接着将涂层试片覆盖其上测量五次进行校正则测量校准完成需要记住的是即便完成了测量校准在实际测量中仍然必须多次测量取平均值。
b对于Rz值大于20μm的喷丸面上的覆层测量。此时的情况较为复杂需要先在同样材质的具有光滑表面（未喷丸处理）的基材上进行校准接着在无覆层的喷丸表面上进行测量十次取平均值然后再再实际工件的覆层上同样进行十次测量再取平均值这两个平均值之差的绝对值就是覆层厚度。
“软”覆层的测量
某些覆层质地比较软、比较疏松探头接触上之后可能会有微小的凹坑从而影响测量。此时可以将一个确知厚度的涂层试片覆盖其上然后将探头放在这层试片上得出值减去涂层试片的值即是覆层厚度值。提示：使用30～50μm的涂层试片较为合适。
“热”覆层的测量
某些情况下不待完全冷却就需要对覆层进行测量。此时的温度通常超过60℃一方面热量会传导给探头的树脂支撑环我们知道支撑环里面有线圈或磁芯而它们所产生的感应场会因为过高的温度产生变化；另一方面我们同样知道基材本身的磁场和电涡流场也会因为温度的过高变化而产生细微的畸变。
因此在这种情况下我们要解决两个问题：一是尽量降低热量的传导这里我们可以用到高温护垫，将其安装在探头上；二是需要更敏感的探头以便辨析温度带来的基材本身的磁场或电涡流场的畸变。当然，表面粗糙度仪这往往意味着仪器需要提供更高的精度。
介绍一种简单可靠的应用（以外凸面为例）
先在无覆盖层的外凸面工件进行测量按理本应显示为零但从以上的介绍可知很可能读值并不为零而是正偏差的某个数此时并非必须较零（重要的事情说三遍）否则强行较零可能使仪器出厂时校正的参照曲线严重偏移、或者干脆无法较到零位。
在此情况下只需记下这个正偏差值然后测量实际覆层将取得的读值减去这个正偏差值即为覆层的实际读值。
