产品图片 | 产品名称/型号 | | 主要技术指标 | 价格 从低到高 默认 |
| 工业用和商用 热像仪 Ti110 | 美国福禄克FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至250 °C(-4 °F至482 °F) | 洽询
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| 工业用和商用 热像仪 Ti105 | 美国福禄克FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至250 °C(-4 °F至482 °F) | 洽询
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| 通用型热像仪 Ti100 | 美国福禄克FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+ 250 °C(-14 °F至482 °F) | 洽询
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| 热像仪 Ti95 | 美国福禄克FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+250 °C(-4 °F to +482 °F) | 洽询
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| 红外热像仪 Fluke Ti32 | 美国福禄克FLUKE | 温度测量范围(-10 °C以下未经校准)-20℃~+600℃ | 洽询
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| 热像仪 Ti90 | 美国福禄克FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+250 °C(-4 °F to +482 °F) | 洽询
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| 红外热像仪 Ti29 | 美国福禄克FLUKE | 温度测量范围 -20 °C ~ +600 °C | 洽询
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| 红外热像仪 Ti27 | 美国福禄克FLUKE | 温度测量范围 -20°C ~+600°C | 洽询
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| 红外热像仪 Ti25 | 美国福禄克FLUKE | 温度量程(-10 °C以下未经校准)-20 °C~+350 °C (2个量程) | 洽询
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| 红外热像仪 Ti10 | 美国福禄克FLUKE | 温度量程(-10 °C以下未经校准):-20 °C~+250 °C(-4 °F~+ 482 °F)
全热辐射度是:精度:± 2 °C或2 %(取二者中较大者) | 洽询
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| 红外热像仪 Ti9 | 美国福禄克FLUKE | 温度量程(-10 °C以下未经校准): -20 °C~+250 °C(-4 °F~+ 482 °F) | 洽询
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| 热像仪 Ti50FT | 美国福禄克FLUKE | 校准温度范围:Ti50: -20 ˚C至350 ˚C,2量程(-4 oF至662 oF) | 洽询
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| 热成像仪 Ti55FT | 美国福禄克FLUKE | 校准温度范围:Ti55: -20 ˚C至600 ˚C,3量程(-4 oF至1112 oF) | 洽询
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| 红外热像仪 TiR3FT | 美国福禄克FLUKE | 校准温度范围:-20 ˚C至100 ˚C(-4 oF至212 oF) | 洽询
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| 红外热像仪 TiR4FT | 美国福禄克FLUKE | 校准温度范围:-20 ˚C至100 ˚C(-4 oF至212 oF) | 洽询
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| 红外热像仪 FLIR E4 | 美国FLIR | 精度 ±2℃或读数的±2%,环境温度10℃-35℃,对象温度+0℃以上 | 洽询
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| 红外热像仪 FLIR E5 | 美国FLIR | 精度 ±2℃或读数的±2%,环境温度10℃-35℃,对象温度+0℃以上 | 洽询
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| 红外热像仪 FLIR E6 | 美国FLIR | 精度 ±2℃或读数的±2%,环境温度10℃-35℃,对象温度+0℃以上 | 洽询
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| 红外热像仪 FLIR E8 | 美国FLIR | 精度 ±2℃或读数的±2%,环境温度10℃-35℃,对象温度+0℃以上 | 洽询
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| 红外热像仪 FLIR i5 | 美国FLIR | 视场角:
21°(H) x 21°(V) | 洽询
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