| 产品图片 | 产品名称/型号 | | 主要技术指标 | 价格 |
| 热像仪
Ti95 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+250 °C(-4 °F to +482 °F) | 洽询
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| 红外热像仪
Fluke Ti32 | 美国FLUKE | 温度测量范围（-10 °C以下未经校准）-20℃～+600℃ | 洽询
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| 红外热像仪
Ti29 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C ～ +600 °C | 洽询
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| 红外热像仪
Ti9 | 美国FLUKE | 温度量程（-10 °C以下未经校准）： -20 °C~+250 °C（-4 °F～+ 482 °F） | 洽询
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| 热成像仪
Ti55FT | 美国FLUKE | 校准温度范围：Ti55: -20 ˚C至600 ˚C，3量程（-4 oF至1112 oF） | 洽询
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| 红外热像仪
TiR3FT | 美国FLUKE | 校准温度范围：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF） | 洽询
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| 红外热像仪
TiR4FT | 美国FLUKE | 校准温度范围：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF） | 洽询
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| 红外热像仪
FLIR E4 | 美国FLIR | 精度 ±2℃或读数的±2%，环境温度10℃-35℃，对象温度+0℃以上 | 洽询
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| 红外热像仪
FLIR E6 | 美国FLIR | 精度 ±2℃或读数的±2%，环境温度10℃-35℃，对象温度+0℃以上 | 洽询
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| 红外热像仪
FLIR E8 | 美国FLIR | 精度 ±2℃或读数的±2%，环境温度10℃-35℃，对象温度+0℃以上 | 洽询
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| 红外热像仪
FLIR i5 | 美国FLIR | 视场角:
21°(H) x 21°(V) | 洽询
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| 红外热像仪
FLIR i3 | 美国FLIR | 视场角：
12.5°（H） x 12.5°（V） | 洽询
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| 红外热像仪
FLIR E50 | 美国FLIR | 热灵敏度：<0.05°C | 洽询
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| 红外热像仪
FLIR E60 | 美国FLIR | 热灵敏度：<0.05°C | 洽询
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| 热成像相机
T620 | 美国FLIR | Accuracy +/-2°C (+/-3.6°F) or +/-2% of reading, whichever is greater, at 25°C (77°F) nominal | 洽询
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| 热成像相机
T660 | 美国FLIR | Accuracy +/-1°C (+/-1.8°F) or +/-1% of reading for limited temperature range; ±2°C (±3.6°F) or 2%, whichever is greater, at 25°C (77°F) nominal | 洽询
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| 热成像相机
T640 | 美国FLIR | Accuracy +/-2°C (+/-3.6°F) or +/-2% of reading, whichever is greater, at 25°C (77°F) nominal | 洽询
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| 红外热像仪
P660 | 美国FLIR | 测温范围 -40°C ~ +500°C（最高可选测量温度可达+2000°C） | 洽询
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| 2” FLIR 红外窗口
IRW-2C | 美国FLIR | 光学元件直径 50mm | 洽询
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| 4” FLIR 红外窗口
IRW-4C | 美国FLIR | 光学元件直径 95mm | 洽询
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