高性能X射线荧光测量仪，果欧涂层测厚仪，配有最先进的硅漂移探测器(SDD)，涂层测厚仪 北京时代，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。

特点

• 高性能机型，分体式涂层测厚仪，具有强大的综合测量能力
• 配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片
• 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，兰泰涂层测厚仪，还适用于更复杂的多元素分析
• 由下至上的测量方向，表面涂层测厚仪，可以非常简便地实现样品定位  

典型应用领域

• 对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量
• 对有害物质进行痕量分析，美泰涂层测厚仪，例如，涂镀层测厚仪，玩具中的铅含量
• 在珠宝和手表业，混凝土涂层测厚仪，以及在金属精炼领域，进口测厚仪，对合金进行高精度的分析
• 用于高校研究和工业研发领域