达州涂层测厚仪TT260,达州涂层测厚仪价格

达州涂层测厚仪-TT260-时代仪器

产品概述：

本仪器是一种便携式测量仪，涂层测厚仪智昊，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，非铁基涂层测厚仪，也可用于工程现场。通过使用不同的测头，德国思创涂层测厚仪，还可满足多种测量的需要。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。本仪器符合以下标准： GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》

功能特点：

●本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，涂层测厚仪检定，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。

●可使用7 种测头(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)

●具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；

●具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B)

●设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；

●可采用两种方法对仪器进行校准，表面涂层测厚仪，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；

●具有存贮功能：可存贮495 个测量值；

●具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，qnix涂层测厚仪，也可删除存贮区内的所有数据，手持涂层测厚仪，以便进行新的测量；

●设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析

●具有打印功能：可打印测量值、统计值、限界、直方图；

●具有与PC 机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC 机，涂层测厚仪价格，以便对数据进行进一步处理；

●具有电源欠压指示功能；

●操作过程有蜂鸣声提示；

●具有错误提示功能，涂层测厚仪原理，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示；

●设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式

技术参数：

覆盖层基体		有机材料等非磁性覆盖层(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等)		非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)
覆盖层基体		覆盖层厚度不超过100μm	覆盖层厚度超过100μm	覆盖层厚度不超过100μm	覆盖层厚度超过100μm
如铁、钢等磁性金属	被测面积的直径大于30mm	F400 型测头 0～400μm F1 型测头 0～1250μm	F1 型测头 0～1250μm F10 型测头 0～10mm	F400 型测头 0～400μm F1 型测头 0～1250μm	F1 型测头 0～1250μm F10 型测头 0～10mm
如铁、钢等磁性金属	被测面积的直径小于30mm	F400 型测头 0～400μm	F400 型测头 0～400μm F1 型测头 0～1250μm	F400 型测头 0～400μm	F400 型测头 0～400μm F1 型测头 0～1250μm
如铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属	被测面积的直径大于5mm	N1 型测头 0～1250μm		仅用于铜上镀铬N1 型测头 0～40μm
塑料、印刷线路非金属基体	被测面积的直径大于7mm	-	-	CN02 型测头10～200μm

测头类型		可选，德国涂层测厚仪，见附表
测量原理		磁感应和电涡流
测量范围		探头决定
低限分辨力		探头决定
探头连接方式		分体式导线连接（可更换）
示值误差	一点校准(um)	探头决定
	两点校准(um)	探头决定
测量条件	最小曲率半径(mm)	探头决定
	基体最小面积的直径(mm)	探头决定
	最小临界厚度(mm)	探头决定
温湿度		0~40℃ 20%RH～90%RH
统计功能		平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）
工作方式		直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式		连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置		有
存储能力		495 个测量值
打印/连接计算机		自带打印机/能连接电脑
关机方式		手动和自动
电源		1/2镍氢电池5×1.2V
外形尺寸		270×86×47mm
重量		530g

TT260涂层测厚仪可选探头参数表

测头型号		F400		F1	F1/90	F10	N1		CN02
工作原理		磁感应					电涡流
测量范围（um）		0-400		0-1250		0-10000	0-1250(铜上镀铬0-40um)	10-200
低限分辨力(um)		0.1		0.1		10	0.1	1
示值误差	一点校准(um)	±[3%H+1]				±[3%H+10]	±[3%H+1.5]	±[3%H+1]
	两点校准(um)	±[(1～3)%H+0.7]	±[(1～3)%H+1]			±[(1～3)%H+10]	±[(1～3)%H+1.5]	-
测量条件	最小曲率半径(mm)	凸 1	凸1.5		平直	10	3	平直
	基体最小面积的直径(mm)	ф3	ф7		ф7	ф40	ф5	ф7
	最小临界厚度(mm)	0.2	0.5		0.5	2	0.3	无限制

基本配置：

主机、打印机、F头或N头、标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）、铁基体或铝基体、充电器

可选附件：

探头（F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1）、通信线缆、通信软件