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    高性能X射线荧光测试仪
    型 号:XDV -SDD
    品 牌:德国菲希尔Fischer
    技术指标:可自动测量超薄镀层和分析痕量元素
    达州高性能X射线荧光测试仪-XDV -SDD-德国菲希尔Fischer

    高性能X射线荧光测试仪,涂层测厚仪图片,配有可编程XY平台和Z轴,济南涂层测厚仪培训,可自动测量超薄镀层和分析痕量元素


    仪器特点

    • 高级型号仪器,涂层测厚仪原理,具有常见的所有功能
    • 射线激发量的灵活性最大,电镀层测厚仪,激发量可根据测量面积大小和光谱组成而改变
    • 通过硅漂移探测器,壁厚仪,在 > 10万cps(每秒计数率) 的超高信号量下也可以正常工作,喷涂层测厚仪,而不会出现能量分辨率的降低
    • 极低的检测下限和出色的测量重复度
    • 带有快速、可编程 XY 工作台的自动测量仪器
    • 大容量便于操作的测量舱

    典型应用领域

    • 测量极薄的镀层,表面涂层测厚仪,例如应用于电子和半导体行业中
    • 痕量分析,涂层测厚仪多少钱,例如根据 RoHS、玩具标准、包装标准对有害物质进行检测
    • 进行高精度的黄金和贵金属分析
    • 光伏产业
    • 测量 NiP 镀层的厚度和成分 


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