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GUT-6000B是一款台式数字IC测试仪。可测试1800多种常见的TTL和CMOS器件，，真正在数字IC测试领域实现一个机型测量所有器件的解决方案。 特点
循环测试
测试范围
54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE
量测种类
约 1800 种
测试电压
2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间
高测试速度，，平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
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