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技术文章
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    X 射线荧光测量系统
    型 号:X-RAY 4000
    品 牌:德国菲希尔Fischer
    技术指标:连续的在线测量和分析
    果洛X 射线荧光测量系统-X-RAY 4000-德国菲希尔Fischer

    X 射线荧光测量系统,涂层测厚仪mikrotest,用于在光滑和压印(包括带有铸模接触面)的轴带生产过程中,进口测厚仪,进行连续的在线测量和分析


    特点

    • 用于在持续生产过程中对薄膜、轴带和冲压带上的涂镀层进行连续测量
    • 可按照样品运动方向正确调整测量头的角度
    • 操作简单,涂层测厚仪 北京时代,设置时间短
    • X射线探测器可以为比例计数管,涂层测厚仪智昊,珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器
    • 有定位装置,天津涂层测厚仪,用于测量多个位置进行测量
    • 根据客户需要专门设计
    • 自动校准
    • 可以快速地从一条生产线上转移到另一条生产线
    • 可方便地集成到质量控制系统和过程控制系统中  

    典型应用领域

    •  电镀条带,涂层测厚计,例如接触点、冲压带
    • 测量热镀锌钢带
    • 太阳能薄膜电池(光伏产业
    • 薄膜和条带上的金属涂镀层
    • 电子工业及其供应商
    • 生产过程监控


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