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技术文章
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    X 射线荧光测量系统
    型 号:X-RAY 5000
    品 牌:德国菲希尔Fischer
    技术指标:在生产过程中对薄镀层如 CIGS、CIS 或 CdTe进行连续在线测量和分析
    海南X 射线荧光测量系统-X-RAY 5000-德国菲希尔Fischer

    X 射线荧光测量系统,涂层测厚仪选智昊,用于在生产过程中对薄镀层如 CIGS、CIS 或 CdTe进行连续在线测量和分析    


    特点

    • 法兰测量头,天津涂层测厚仪,用于在生产线中进行连续测量
    • X射线探测器可以为比例计数管,德国思创涂层测厚仪,珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器
    • 在生产过程中直接用典型产品进行快速简单校
    • 可在真空或大气中使用
    • 可以在最高 500° C 的高温基材上进行测量
    • 坚固和耐用是设计的重心 

    典型应用领域

    • 光伏技术(CIGS,北京时代 涂层测厚仪,CIS,涂镀层测厚仪,CdTe)
    • 分析对金属带、金属薄膜和塑料薄膜上的镀层
    • 连续生产线
    • 喷射和电镀生产线监测
    • 测量大面积样品 


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