X 射线荧光测量系统，涂层测厚仪epk，用于在生产过程中对薄镀层如 CIGS、CIS 或 CdTe进行连续在线测量和分析    

特点

• 法兰测量头，涂层测厚仪 fischer，用于在生产线中进行连续测量
• X射线探测器可以为比例计数管，涂层测厚仪器，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器
• 在生产过程中直接用典型产品进行快速简单校
• 可在真空或大气中使用
• 可以在最高 500° C 的高温基材上进行测量
• 坚固和耐用是设计的重心 

典型应用领域

• 光伏技术（CIGS，透涂层测厚仪，CIS，潍坊涂层测厚仪价格，CdTe）
• 分析对金属带、金属薄膜和塑料薄膜上的镀层
• 连续生产线
• 喷射和电镀生产线监测
• 测量大面积样品