高性能X射线荧光测量仪，塑料涂层测厚仪，配有最先进的硅漂移探测器(SDD)，涂层测厚仪探头，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。

特点

• 高性能机型，北京时代涂层测厚仪，具有强大的综合测量能力
• 配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片
• 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，涂层测厚仪 探头，还适用于更复杂的多元素分析
• 由下至上的测量方向，日照涂层测厚仪应用，可以非常简便地实现样品定位  

典型应用领域

• 对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量
• 对有害物质进行痕量分析，壁厚仪，例如，非金属涂层测厚仪，玩具中的铅含量
• 在珠宝和手表业，涂层测厚计，以及在金属精炼领域，涂层测厚仪检定，对合金进行高精度的分析
• 用于高校研究和工业研发领域