高性能X射线荧光测试仪，涂层测厚仪器，配有真空室，涂层测厚仪 epk，适用于材料无损分析

特点

• 通用型高级仪器，qnix涂层测厚仪，可满足各种测量需要
• 测量舱可以抽真空，涂层膜厚测试仪，并可以对自 Z = 11（Na）起的轻元素进行分析
• 精确的、可编程的 XYZ 工作台用于自动测量
• 摄像头用于样品精确定位以及在细小部位上进行测量

典型应用领域

• 轻元素的测量分析
• 薄镀层测量和痕量分析
• 通用材料分析及鉴定
• 非破坏性宝玉石分析
• 光伏产业