X射线荧光测试仪，红外线测厚仪，可在微小样品上，两用涂层测厚仪，手动或全自动测量印刷线路板、电子元件和大规模生产零部件上的镀层厚度。包括镍层测厚、化镍厚度等。

XDLM镀层厚度测量仪特点

• 通用性极广，无锡涂层测厚仪，因为配备了微聚焦管、4个可切换准直器和 3 个基本滤片
• 适用于微小结构，德国菲希尔mpo涂层测厚仪，如接插件或线路板
• 还适用于远距离测量（DCM方法，麦考特涂层测厚仪，范围0-80 mm）
• 底部C型开槽的大容量测量舱
• 可编程的台式设备，北京涂层测厚仪，用于自动测量 

XDLM镀层厚度测量仪典型应用领域

•  测量印刷线路板工业中，机械式涂层测厚仪，薄金、钯和镍镀层。镍层测厚、化镍厚度

• 测量接插件镀层和触点镀层。

• 在电子和半导体行业中测量功能性镀层。

• 黄金、珠宝和钟表工业。