X 射线荧光测量系统，北京时代涂层测厚仪，用于在光滑和压印（包括带有铸模接触面）的轴带生产过程中，phynix涂层测厚仪，进行连续的在线测量和分析

特点

• 用于在持续生产过程中对薄膜、轴带和冲压带上的涂镀层进行连续测量
• 可按照样品运动方向正确调整测量头的角度
• 操作简单，上海涂层测厚仪，设置时间短
• X射线探测器可以为比例计数管，麦考特涂层测厚仪，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器
• 有定位装置，x射线涂层测厚仪，用于测量多个位置进行测量
• 根据客户需要专门设计
• 自动校准
• 可以快速地从一条生产线上转移到另一条生产线
• 可方便地集成到质量控制系统和过程控制系统中  

典型应用领域

•  电镀条带，德国涂层测厚仪，例如接触点、冲压带
• 测量热镀锌钢带
• 太阳能薄膜电池（光伏产业
• 薄膜和条带上的金属涂镀层
• 电子工业及其供应商
• 生产过程监控