| 产品图片 | 产品名称/型号 | | 主要技术指标 | 价格 |
| 热像仪
Ti20 | 美国FLUKE | 温度范围： -10°至 350°C | 洽询
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| 红外热像仪
Ti400 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+1200 °C（-4 °F至+2192 °F） | 洽询
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| 工业-商业型热成像仪
Ti125 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至250 °C（-4 °F至482 °F） | 洽询
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| 工业用和商用 热像仪
Ti110 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至250 °C（-4 °F至482 °F） | 洽询
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| 工业用和商用 热像仪
Ti105 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至250 °C（-4 °F至482 °F） | 洽询
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| 红外热像仪
Fluke Ti32 | 美国FLUKE | 温度测量范围（-10 °C以下未经校准）-20℃～+600℃ | 洽询
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| 热像仪
Ti90 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20 °C至+250 °C(-4 °F to +482 °F) | 洽询
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| 红外热像仪
Ti27 | 美国FLUKE | 温度测量范围 -20°C ～+600°C | 洽询
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| 红外热像仪
Ti25 | 美国FLUKE | 温度量程（-10 °C以下未经校准）-20 °C～+350 °C (2个量程) | 洽询
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| 红外热像仪
TiR3FT | 美国FLUKE | 校准温度范围：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF） | 洽询
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| 红外热像仪
FLIR i7 | 美国FLIR | 视场角:
29°(H) x 29°(V) | 洽询
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| 红外热像仪
FLIR E30 | 美国FLIR | 热灵敏度：<0.1°C | 洽询
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| 红外热像仪
FLIR E40 | 美国FLIR | 热灵敏度：<0.07°C | 洽询
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| 红外热像仪
FLIR E50 | 美国FLIR | 热灵敏度：<0.05°C | 洽询
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| 热成像相机
T440 | 美国FLIR | Accuracy +/-2°C (+/-3.6°F) or +/-2% of reading, whichever is greater, at 25°C (77°F) nominal | 洽询
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| 热成像相机
T600 | 美国FLIR | Accuracy +/-2°C (+/-3.6°F) or +/-2% of reading, whichever is greater, at 25°C (77°F) nominal | 洽询
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| 热成像相机
T660 | 美国FLIR | Accuracy +/-1°C (+/-1.8°F) or +/-1% of reading for limited temperature range; ±2°C (±3.6°F) or 2%, whichever is greater, at 25°C (77°F) nominal | 洽询
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| 红外热像仪
P640 | 美国FLIR | 测温范围 -40°C ~ +500°C（最高可选测量温度可达+2000°C） | 洽询
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| 3” FLIR 红外窗口
IRW-3C | 美国FLIR | 光学元件直径：75mm | 洽询
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| 2” FLIR 红外窗口
IRW-2C | 美国FLIR | 光学元件直径 50mm | 洽询
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