X 射线荧光测试仪，壁厚仪，配有多毛细孔 X 射线光学系统，d4涂层测厚仪，可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。

XDV-u镀层厚度测量仪特点

• 优化的微区分析测试仪器
• 根据X射线光学系统，epk 涂层测厚仪，可以对100 μm或更小的结构进行分析
• 极高的能量强度，电镀层测厚仪，从而实现出色的精度
• 即使对于薄镀层，进口涂层测厚仪，测量的不确定度也有可能做到 < 1 nm
• 只适用于平面的或是接近平面的样品
• 底部C型开槽的大容量测量舱
• 通过快速、可编程的 XY 工作台进行自动测量

XDV-u镀层厚度测量仪典型应用领域

• 测量印刷线路板、引线框架和芯片上的镀层系统
• 测量细小部件和细电线上的镀层系统
• 分析微小结构和微小部件的材料成分