高性能X射线荧光测试仪，defelsko涂层测厚仪，配有可编程XY平台和Z轴，手持式涂层测厚仪，可自动测量超薄镀层和分析痕量元素

仪器特点

• 高级型号仪器，镀锌层测厚仪，具有常见的所有功能
• 射线激发量的灵活性最大，壁厚仪，激发量可根据测量面积大小和光谱组成而改变
• 通过硅漂移探测器，时代涂层测厚仪，在 > 10万cps（每秒计数率） 的超高信号量下也可以正常工作，国产涂层测厚仪，而不会出现能量分辨率的降低
• 极低的检测下限和出色的测量重复度
• 带有快速、可编程 XY 工作台的自动测量仪器
• 大容量便于操作的测量舱

典型应用领域

• 测量极薄的镀层，非铁基涂层测厚仪，例如应用于电子和半导体行业中
• 痕量分析，电磁涂层测厚仪，例如根据 RoHS、玩具标准、包装标准对有害物质进行检测
• 进行高精度的黄金和贵金属分析
• 光伏产业
• 测量 NiP 镀层的厚度和成分