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技术文章
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  • 芬兰VAISALA DMP248 精密露点仪的原理与应用
  • 影响电子天平称量的因素
  • 激光测距仪简介
  • 电子天平常见故障及处理方法
  • 涂层测厚仪的测量要素
  • 避免电子天平温漂对测量的影响
  • 频谱分析仪和矢量信号分析仪
  • 使用涂层测厚仪时应注意的事项
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    高精密LCR测试仪
    型 号:LCR-819
    品 牌:台湾固纬GWINSTEK
    技术指标:测试频率:12Hz ~ 100kHz, 503 点
    0.05% 高量测准确度 (0.1% for LCR-829/827)
    孝感高精密LCR测试仪-LCR-819-台湾固纬GWINSTEK
    高精密LCR测试仪 , 12 ~ 100kHz (503 点)

    LCR-800系列是一款应用于零组件/材料测量的LCR测试仪,可用于研发和生产线等多种不同的应用场合。240x128大型点阵LCD可同时显示两组测量参数,而且使用者还可看到所有的测试条件。测量参数的组合,采用最佳的观测需求,像R/Q、C/D、C/R和L/Q;LCR-821还具有更精确的阻抗测量模式,可以同时测量阻抗值和相位角。100组测量条件设置记忆体使得LCR-800系列满足多种测试环境和场合。通过RS-232接口的PC软件(LCR-viewer),可以让使用者通过PC的控制下,快速及便利的截取并储存测量的资料。Handler接口是LCR-826/827/829的标配接口。

    特点

    测试频率:12Hz ~ 100kHz, 503 点 
    0.05% 高测量准确度
    100 组设定条件记忆储存、调取功能 
    R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式 
    绝对值、△值、△%值显示 
    240 x 128 大型 LCD 显示屏 
    测试条件及结果同时显示在屏幕上

    测试频率
      12Hz — 100kHz (503 点)
    准确度
      0.05%
    测试速度
      68mS
    测试电压
      5mV ~ 1.275V (5mV步进)
    直流偏压
    内部 2V
    外部 0 ~ 30V
    显示范围
    串/并联等效阻抗 R 0.00001Ω ~ 99999kΩ 0.00001Ω ~ 99999kΩ
    电容 C 0.00001pF ~ 99999uF
    电感 L 0.00001mH ~ 99999H
    品质因素 Q 0.0001 ~ 9999
    损耗因素 D 0.0001 ~ 9999
    测量模式
      R/Q, C/D, C/R, L/Q
    等效电路
      串联/并联可切换
    记忆体
      100 组
    平均
      1 ~  255 次
    测量速度
      慢, 中, 快
    测量值显示
      Value, △%, △
    显示屏
      240 x 128 点阵C.C.F.L 背光LCD
    接口
      Handler 接口
    电源
      100V ~ 240V, 50/60Hz
    附件
      电源线 x 1,
    操作手册 x 1, 
    测试治具: LCR-06A x 1
    选购测试治具: LCR-05, LCR-07, LCR-08, LCR-09
    尺寸&重量
      330(宽) x 149(高) x 437(长)mm
    约 5.5 公斤

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