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    涂层测厚仪
    型 号:MC-2000C
    品 牌:国产
    技术指标:测量范围:0-5000um
    玉树涂层测厚仪-MC-2000C-国产

    MC-2000C|涂层测厚仪|国产主要技术参数

    MC-2000 A 型测量范围:0-1500um
    MC-2000 C 型测量范围:0-5000um
    MC-2000 D 型测量范围:10-9000um
    可订做管道内涂(镀)层测头,薄膜涂层测厚仪,30mm管径以上
    测量精度:±(3%厚度值+1)um         
    存储容量:253个测量值(带日期)
    (可连接打印机)时钟、日期显示
    EL背光、全中文汉显、全属机壳
    测量材料:铁基
    外型尺寸:50×95×24mm

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