X射线荧光测量仪，便携式涂层测厚仪，用于快速、无损分析黄金和银合金

特点

• 为无损分析珠宝、钱币和贵金属特别优化设计
• 配备固定的准直器和基本虑片，非接触涂层测厚仪，特别适用于贵金属分析
• 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，透涂层测厚仪，适用于更复杂的多元素分析
• 由下至上的测量方向，d3涂层测厚仪，可以最简便地实现样品定位  

典型应用领域

• 在珠宝和钟表行业中的黄金和贵重金属分析
• 牙科行业中的材料合金分析